IC封裝比容量測儀

第 1 到 2 筆。共 2 筆。

PVT

熱塑性材料比容量測儀
翹曲是熱塑性材料射出成型產品的主要問題之一,然而目前通常使用試錯法或其他基於經驗的診斷方法來解決。
根據PVT機台的測試數據,可提供具有理論基礎的科學方法。 ...

PVTC-A1

比容量測儀
IC封裝過程中,封裝材料的固化反應會導致封裝體產生顯著的收縮和翹曲,這是封裝體品質難以控制的主要原因之一。
PVTC就是用於解決熱固性材料因化學收縮產生體積變化的問題。 ...